Найдено 2 результатов.

Результаты
	1.	Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: application to semiconductor nano-objects / D. Grigoriev [et al.]Уровень набора: Journal of Applied Crystallography = 2015-Доступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Role of the strained substrate in the x-ray diffraction of free-standing epitaxial nanostructures under grazing incidence conditions / S. V. Lazarev [et al.]Уровень набора: Physical Review B, Condensed Matter and Materials PhysicsДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск