Introduction to Wave Scattering, Localization and Mesoscopic Phenomena

Основной Автор-лицо: Sheng, P.Язык: английский.Страна: .Сведения об издании: Second EditionПубликация: : Springer-Verlag, 2006Описание: 332 p. : il.ISBN: 3540291555.Серия: Springer Series in Materials Science, Vol. 88Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: References: p. 323-329..Тематика: материаловедение | материалы | дефектоскопия | рентгенодефектоскопия | рассеянное излучение | мезоскопия | просвечивание | английский язык
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип издания Текущая библиотека Шифр хранения Доступность Штрихкод | RFID
Books НТБ ТПУ Читальный зал иностранной литературы 620.1 S53 В наличии 13821000398886
Всего резервирований: 0

References: p. 323-329.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.