Найдено 3 записей

Результаты
	1.	Active IR Thermography Evaluation of Coating Thickness by Determining Apparent Thermal Effusivity / A. I. Moskovchenko, V. P. Vavilov, M. Svantner [et al.]Уровень набора: MaterialsДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Characterizing Depth of Defects with Low Size/Depth Aspect Ratio and Low Thermal Reflection by Using Pulsed IR Thermography / A. I. Moskovchenko, M. Svantner, V. P. Vavilov, A. O. ChulkovУровень набора: MaterialsДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	3.	Analyzing probability of detection as a function of defect size and depth in pulsed IR thermography / A. I. Moskovchenko, M. Svantner, V. P. Vavilov, A. O. ChulkovУровень набора: NDT & E InternationalДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск