Найдено 2 результатов.

Сортировать
Снять подсветку Подсветить
Выбрать всё Очистить всё
Выбрать заглавия:
Новая подборка
Результаты
1.
Localized surface curvature artifacts in tip-enhanced nanospectroscopy imaging / E. S. Sheremet, L. R. Kim, D. I. Stepanishcheva [et al.]Уровень набора: UltramicroscopyДоступность: :

Добавить в подборку Добавить в корзину
2.
Advanced Characterization Methods for Electrical and Sensoric Components and Devices at the Micro and Nano Scales / E. S. Sheremet, P. Meszmer, T. Blaudeck [et al.]Уровень набора: Physica Status Solidi A, JournalДоступность: :

Добавить в подборку Добавить в корзину