| 000 | 01443nam0a2200445 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 140255 | ||
| 005 | 20231029184954.0 | ||
| 010 | _a9780387292601 | ||
| 035 | _a(RuTPU)RU\TPU\book\151936 | ||
| 090 | _a140255 | ||
| 100 | _a20080624d2007 k y0engy50 ba | ||
| 101 | 0 | _aeng | |
| 102 | _aUS | ||
| 105 | _aa z 001zy | ||
| 200 | 1 |
_aFundamental of Nanoscale Film Analysis _fT. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer |
|
| 210 |
_aNew York _cSpringer _d2007 |
||
| 215 |
_a336 p. _cil. |
||
| 320 | _aIndex: p. 330-336. | ||
| 320 | _aБиблиография в конце глав. | ||
| 606 | 1 |
_aФизика твердого тела _2stltpush _3(RuTPU)RU\TPU\subj\63727 |
|
| 610 | 1 | _aфизика | |
| 610 | 1 | _aтвердые тела | |
| 610 | 1 | _aструктурный анализ | |
| 610 | 1 | _aмонокристаллы | |
| 610 | 1 | _aнанокристаллы | |
| 610 | 1 | _aнаноструктуры | |
| 610 | 1 | _aизмерения | |
| 610 | 1 | _aэлектронная микроскопия | |
| 610 | 1 | _aсвойства | |
| 610 | 1 | _aисследование | |
| 610 | 1 | _aоборудование | |
| 610 | 1 | _aанглийский язык | |
| 675 |
_a539.2 _v3 |
||
| 675 |
_a621.385.833 _v3 |
||
| 700 | 1 |
_aAlford _bT. L. _gTerry L. |
|
| 701 | 1 |
_aFeldman _bL. C. _gLeonard C. |
|
| 701 | 1 |
_aMayer _bJ. W. _gJames W. |
|
| 801 | 1 |
_aRU _b63413507 _c20080624 _gPSBO |
|
| 801 | 2 |
_aRU _b63413507 _c20150305 _gPSBO |
|
| 942 | _cBK | ||