000 05572nmm0a2200517 4500
001 147021
005 20231029190035.0
010 _a5940744168
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\159361
090 _a147021
100 _a20081107d2008 m y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa j 001zy
200 1 _aИсследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий
_eучебное пособие
_fА. С. Глинченко [и др.]
210 _aМосква
_cДМК Пресс
_d2008
215 _a352 с.
_cил.
_eCD-ROM
320 _aСписок литературы: с. 317-318.
330 _aВ книге рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом (АЛП УД) по исследованию полупроводниковых приборов, приведено описание реализующей его системы АЛП УД «Электроника», в том числе входящего в ее состав аппаратно-программного комплекса (АПК) «Электроника», разработанного на основе технологии корпорации National Instruments в региональном инновационном центре «Центр технологий National Instruments» при ФГОУ ВПО «Сибирский федеральный университет». Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольтамперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе. Издание предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины «Электроника» и других родственных дисциплин, выполняемом на базе сетевой лаборатории Сибирского федерального округа с помощью АПК УД «Электроника». Учебное пособие подготовлено в рамках выполнения инновационной образовательной программы по направлению «Информатизация и автоматизированные системы управления», реализуемой в ФГОУ ВПО СФУ в 2007 г. На прилагаемом к книге DVD-ROM находятся интерактивное электронное техническое руководство к АПК УД «Электроника»; демо-версия системы OrCAD 9.1; файлы проектов для математического моделирования полупроводниковых приборов; система компьютерной проверки знаний тестированием с примерами тестовых заданий; 30-дневная версия LabVIEW 8.5; примеры виртуальных приборов.
606 1 _aПолупроводниковые приборы
_xПараметры
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\50678
610 1 _aэлектроника
610 1 _aавтоматизированный лабораторный практикум
610 1 _aвольт-амперные характеристики
610 1 _aаппаратно-программные комплексы
610 1 _aудаленный доступ
610 1 _aмоделирование
610 1 _aПЭВМ
610 1 _aперсональные электронные вычислительные машины
610 1 _aполупроводниковые диоды
610 1 _aстабилитроны
610 1 _aполевые транзисторы
610 1 _aбиополярные транзисторы
610 1 _aучебные пособия
610 1 _aCD-ROM
675 _a621.382.01(075.8)
_v3
701 1 _aГлинченко
_bА. С.
_gАлександр Семенович
701 1 _aЕгоров
_bН. М.
_gНиколай Михайлович
701 1 _aКомаров
_bВ. А.
_gВладимир Александрович
701 1 _aСарафонов
_bА. В.
_gАльберт Викторович
801 1 _aRU
_b63413507
_c20081107
_gPSBO
801 2 _aRU
_b63413507
_c20221207
_gPSBO
900 _aИнтернет-технологии
900 _aПолупроводниковые, микропроцессорные и преобразовательные устройства
900 _aЭлектроника
942 _cMX
951 _b210300
_b210302