000 01066nam0a2200325 4500
001 273935
005 20231029215615.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\297145
090 _a273935
100 _a20141030d1986 km y0engy50 ba
101 0 _aeng
102 _aUS
105 _aa z 001zy
200 1 _aFundamentals of Surface and Thin Film Analysis
_fL. C. Feldman, J. W. Mayer
210 _aNew York
_cNorth-Holland
_d1986
215 _a352 p.
_cil.
320 _aIndex: p. 345-352
606 1 _aПленки тонкие
_xИсследование
_x(твердые тела)
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\71990
610 1 _aфизика
610 1 _aфизические исследования
610 1 _aтонкие пленки
610 1 _aанализ
610 1 _aповерхностные свойства
610 1 _aанглийский язык
675 _a539.216.2
_v3
700 1 _aFeldman
_bL. C.
_gLeonard
701 1 _aMayer
_bJ. W.
_gJames
801 1 _aRU
_b63413507
_c20141030
801 2 _aRU
_b63413507
_c20170117
_gRCR
942 _cBK