000 01797nam0a2200517 4500
001 277226
005 20231029220039.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\300499
090 _a277226
100 _a20141201d1984 k y0engy50 ba
101 0 _aeng
102 _aDE
105 _aa z 101zy
200 1 _aSecondary Ion Mass Spectrometry. S. IV
_eProceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
_fA. Benninghoven [и др.]
210 _aBerlin
_cSpringer-Verlag
_d1984
215 _a504 p.
_cil.
225 1 _aSPringer Series in Chemical Physics
_vVol. 36
320 _aIndex: p. 501-503
606 1 _aМасс-спектрометрия
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\73761
610 1 _aфизика
610 1 _aхимия
610 1 _aраспыление
610 1 _aионизация
610 1 _aквантификация
610 1 _aатомы
610 1 _aионы
610 1 _aвторичные ионы
610 1 _aмасс-спектрометры
610 1 _aизмерительные приборы
610 1 _aприменение
610 1 _aорганические соединения
610 1 _aметаллические материалы
610 1 _aнеорганические материалы
610 1 _aполупроводники
610 1 _aконференции
610 1 _aЯпония
610 1 _aанглийский язык
675 _a543.51
_v4
701 1 _aBenninghoven
_bA.
701 1 _aOkano
_bJ.
701 1 _aShimizu
_bR.
701 1 _aWerner
_bH. W.
712 1 2 _aSecondary Ion Mass Spectrometry. S. IV
_cInternational Conference
_d4
_eOsaka, Japan
_f1983
801 1 _aRU
_b63413507
_c20141201
801 2 _aRU
_b63413507
_c20171220
_gRCR
942 _cBK