000 01545nam0a2200421 4500
001 288255
005 20231029221528.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\312712
090 _a288255
100 _a20150324d1984 km y0engy50 ba
101 0 _aeng
102 _aDE
105 _aa z 001zy
200 1 _aNovel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials
_fY. Waseda
210 _aBerlin
_cSpringer-Verlag
_d1984
215 _a184 с.
_cil.
225 1 _aLecture Notes in Physics
_vVol. 204
320 _aReferences: p. 170-177
320 _aSubject Index: p. 178-184
606 1 _aРассеяние пучков ионов
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\23853
610 1 _aнеупорядоченные материалы
610 1 _aструктурные характеристики
610 1 _aсвойства
610 1 _aрентгеновские лучи
610 1 _aаномальное рассеяние
610 1 _aпарциальные факторы
610 1 _aструктурные факторы
610 1 _aструктурный анализ
610 1 _aаномальная дисперсия
610 1 _aрезонансное рассеяние
610 1 _aприменение
610 1 _aиспользование
610 1 _aанглийский язык
675 _a537.534
_v3
700 1 _aWaseda
_bY.
_gYoshio
801 1 _aRU
_b63413507
_c20150324
801 2 _aRU
_b63413507
_c20180320
_gRCR
942 _cBK