000 06378nlm0a2200565 4500
001 345083
005 20231029234633.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\376895
035 _aRU\TPU\book\313427
090 _a345083
100 _a20200722d2020 m y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa j 001zy
135 _adrgn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aЭлектроника: часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II
_bЭлектронный ресурс
_eучебное пособие
_fЭ. И. Цимбалист, П. Ф. Баранов, С. В. Силушкин [и др.]
_gНациональный исследовательский Томский политехнический университет, Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности
203 _aТекст
_cэлектронный
205 _a2-е изд., испр. и доп.
210 _aТомск
_cИзд-во ТПУ
_d2020
230 _a1 компьютерный файл (pdf; 7 009 КВ)
300 _aЗаглавие с титульного экрана
300 _aЭлектронная версия печатной публикации
330 _aПособие включает в себя руководство по эксплуатации инструментов NI ELVIS II, основы схемотехнического моделирования и анализа электрических схем в среде Multisim, рекомендации по выполнению лабораторного цикла, которые могут быть полезными при изучении учебной дисциплины «Электроника», содержит контролирующие материалы. Пособие позволяет познакомиться с современными средствами измерений и моделирования схем, провести самооценку своих знаний и умений, подготовиться к выполнению лабораторных работ. Работа ориентирована на студентов, обучающихся по основным образовательным программам: «Электроника и наноэлектроника», «Оптотехника», «Биотехнические системы и технологии» «Теплоэнергетика и теплотехника», «Информатика и вычислительная техника», «Программная инженерия», «Машиностроение», «Автоматизация технологических процессов и производств», «Мехатроника и робототехника», «Приборостроение», но может быть также полезной для студентов других направлений и специальностей.
333 _aРежим доступа: из корпоративной сети ТПУ
606 1 _aЭлектроника аналоговая
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\67806
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aучебные пособия
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aлабораторные работы
610 1 _aтехнология виртуальных инструментов
610 1 _aLabVIEW
610 1 _aNI ELVIS
610 1 _aэкспериментальные исследования
610 1 _aMultisim
610 1 _aобработка результатов
610 1 _aсхемотехническое моделирование
610 1 _aанализ
610 1 _aэлектрические схемы
675 _a621.382(076)
_v4
701 1 _aЦимбалист
_bЭ. И.
_cспециалист в области контрольно-измерительной техники
_cдоцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук
_f1938-
_gЭдвард Ильич
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\30405
701 1 _aБаранов
_bП. Ф.
_cспециалист в области контрольно-измерительной техники
_cдоцент Томского политехнического университета, программист, кандидат технических наук
_f1987-
_gПавел Федорович
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\30404
701 1 _aСилушкин
_bС. В.
_cспециалист в области контрольно-измерительной техники
_cдоцент Томского политехнического университета, аспирант, кандидат технических наук
_f1974-
_gСтанислав Владимирович
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\28618
701 1 _aФомичев
_bЮ. М.
_cспециалист в области неразрушающего контроля
_cдоцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук
_f1937-
_gЮрий Михайлович
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\29291
701 1 _aИванова
_bВ. С.
_cспециалист в области приборостроения
_cдоцент Томского политехнического университета, ведущий эксперт, кандидат технических наук
_f1977-
_gВероника Сергеевна
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\24509
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет
_bИнженерная школа неразрушающего контроля и безопасности
_bОтделение электронной инженерии
_h7977
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\23507
801 2 _aRU
_b63413507
_c20201016
_gRCR
856 4 _uhttps://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2020/m034.pdf
942 _cCF