| 000 | 04184nam0a2200361 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 371009 | ||
| 005 | 20231030001430.0 | ||
| 035 | _a(RuTPU)RU\TPU\retro\28418 | ||
| 090 | _a371009 | ||
| 100 | _a20220826d1964 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | _aeng | |
| 102 | _aGB | ||
| 105 | _aa z 001zy | ||
| 200 | 1 |
_aTrace Analysis of Semiconductor Materials _fedited by J. P. Cali |
|
| 210 |
_aOxford _cPergamon Press _d1964 |
||
| 215 |
_a282 p. _cil. |
||
| 225 | 1 |
_aInternational series of monographs on analytical chemistry _vVol. 11 |
|
| 320 | _aSubject Index: p. 273-282 | ||
| 330 | _aTrace Analysis of Semiconductor Materials - это руководство, посвященное процедурам ультра-трассового анализа. В этой книге обсуждаются шесть различных методов анализа следов. Эти методы являются наиболее распространенными и могут быть применены к различным проблемам по сравнению с другими методами. Каждая из четырех глав в основном включает введение в принципы и общие положения. Затем кратко обсуждается теоретическая основа рассматриваемой техники. Объясняется практическое применение методов и различных приборов. Затем обсуждаются приложения для анализа следов, относящиеся к полупроводниковым материалам. В главе 1 обсуждается радиохимическая практика, анализ полупроводниковых материалов, методы разделения, несколько качественных радиохимических схем, процедуры радиохимической очистки и несколько ранее сообщенных исследований. Глава 2 охватывает эмиссионную спектроскопию, включая ее потенциал для будущих применений. Обсуждения в главе 3 объясняют преимущества каждого из четырех масс-спектрометрических методов, а именно: метод разбавления изотопов, полное термическое испарение, метод вакуумной искры и метод ионной бомбардировки. Глава 4 посвящена абсорбционным, флуоресцентным и полярографическим методам, используемым в общем анализе следов, включая примеры применения полупроводниковых материалов и другие проблемы, возникающие при введении определенных примесей в испытуемый образец. Данная монография будет полезна исследователям в области ультра-трассового анализа, ядерной физики и аналитической химии. | ||
| 541 | 1 |
_aАнализ следов полупроводниковых материалов _zrus |
|
| 606 | 1 |
_aАналитическая химия _2stltpush _3(RuTPU)RU\TPU\subj\67454 |
|
| 610 | 1 | _aполупроводниковые материалы | |
| 610 | 1 | _aнейтронно-активационный анализ | |
| 610 | 1 | _aэмиссионная спектроскопия | |
| 610 | 1 | _aмасс-спектральный анализ | |
| 610 | 1 | _aабсорбционные методы | |
| 610 | 1 | _aфлуоресцентная спектроскопия | |
| 610 | 1 | _aполярографические методы | |
| 675 |
_a543 _v4 |
||
| 702 | 1 |
_aCali _bJ. P. _gJ. Paul _4340 |
|
| 801 | 1 |
_aRU _b63413507 _c20220826 |
|
| 801 | 2 |
_aRU _b63413507 _c20220826 _gRCR |
|
| 942 | _cBK | ||