000 01265naa2a2200253 4500
001 488502
005 20231030020948.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\prd\156984
035 _aRU\TPU\prd\156980
090 _a488502
100 _a20121029a2006 k y0engy50 ba
101 0 _arus
102 _aRU
200 1 _aComputer simulation of electrothermal instability development and channel formation of solid dielectric thermal breakdown
_fA. A. Cheglokv, V. V. Lopatin, M. D. Noskov
320 _aReferences: p. 184 (7 titles)
461 1 _0(RuTPU)RU\TPU\prd\191
_tИзвестия вузов. Физика
_fМинистерство общего и профессионального образования Российской Федерации ; Томский Госуниверситет
_d1958-
463 1 _0(RuTPU)RU\TPU\prd\156981
_tТ. 49, № 10 : Приложение
_v181-184
_d2006
610 1 _aтруды учёных ТПУ
700 1 _aCheglokov
_bA. A.
701 1 _aLopatin
_bV. V.
_cDoctor of physical and mathematical sciences
_cProfessor of Tomsk Polytechnic University (TPU)
_f1947-
_gVladimir Vasilyevich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\30091
701 1 _aNoskov
_bM. D.
801 1 _aRU
_b63413507
_c20121029
801 2 _aRU
_b63413507
_c20121029
_gRCR
942 _cBK