000 03113naa2a2200397 4500
001 612115
005 20231030034638.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\conf\10207
035 _aRU\TPU\conf\10206
090 _a612115
100 _a20150514d2014 k y0rusy50 ba
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _ay z 101zy
135 _adrcn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aPower apparatus and systems malfunction diagnostic on the basis of its own electromagnetic emission analysis
_fYu. Vassilyeva, A. V. Balastov
_gнауч. рук. В. И. Полищук
203 _aТекст
_cэлектронный
230 _a1 компьютерный файл (pdf; 231 Кb)
300 _aЗаглавие с титульного экрана
320 _a[Библиогр.: с. 169-170 (4 назв.)]
337 _aAdobe Reader
461 1 _0(RuTPU)RU\TPU\conf\9284
_tЯзык и мировая культура: взгляд молодых исследователей
_oсборник материалов XIV Всероссийской научно-практической конференции, г. Томск, 26-28 апреля 2014 г.
_oв 2 ч.
_fНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. Н. А. Качалова
_d2014
463 0 _0(RuTPU)RU\TPU\conf\9286
_tЧ. 2
_v[С. 167-170]
_d2014
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aэлектронный ресурс
700 1 _aVasiljeva (Vassilyeva)
_bYu. Z.
_cspecialist in the field of electric power engineering
_cResearch Engineer of Tomsk Polytechnic University
_f1995-
_gYuliya Zakharovna
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\46740
701 1 _aBalastov
_bA. V.
_clinguist
_csenior lecturer of Tomsk Polytechnic University
_f1982-
_gAleksey Vladimirovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\34672
702 1 _aПолищук
_bВ. И.
_cспециалист в области электроэнергетики
_cдоцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук
_f1966-
_gВладимир Иосифович
_2stltpush
_4727
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bЭнергетический институт (ЭНИН)
_bКафедра иностранных языков энергетического института (ИЯЭИ)
_h6734
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\18680
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bЭнергетический институт (ЭНИН)
_bКафедра электрических сетей и электротехники (ЭСиЭ)
_h6979
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\18677
801 2 _aRU
_b63413507
_c20220225
_gRCR
856 4 _uhttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/20668
856 4 _uhttp://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C89/V2/074.pdf
942 _cBK