000 02815naa2a2200481 4500
001 613953
005 20231030034749.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\conf\12111
035 _aRU\TPU\conf\12105
090 _a613953
100 _a20150904d2014 k y0rusy50 ba
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _ay z 100zy
135 _adrgn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aHigh performance microprocessor system for eddy current defectoscope measurement signal processing
_fA. Purgin
_gsci. adv. E. V. Yakimov
203 _aТекст
_cэлектронный
215 _a1 файл (310 Кб)
230 _aЭлектронные текстовые данные (1 файл : 310 Кб)
300 _aЗаглавие с экрана
320 _a[References: p. 223 (3 tit.)]
330 _aThis article shows principles of development of the eddy current defectoscope data acquisition system. It describes goals of development of this system and main requirements for its characteristics. Also on basis of these requirements possible implementation of the device was suggested.
337 _aAdobe Reader
463 1 _0(RuTPU)RU\TPU\conf\11900
_tИнформационно-измерительная техника и технологии
_oматериалы V научно-практической конференции, Томск, 19-23 мая 2014 г.
_fНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; под ред. А. В. Юрченко
_v[P. 220-223]
_d2014
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aмикропроцессорные системы
610 1 _aвихревые токи
610 1 _aдефектоскопы
610 1 _aсигналы
610 1 _aданные
610 1 _aсбор данных
610 1 _aобработка
700 1 _aPurgin
_bA.
702 1 _aYakimov
_bE. V.
_cspecialist in the field of control and measurement equipment
_cAssociate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences
_f1975-
_gEvgeny Valeryevich
_2stltpush
_4727
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bИнститут неразрушающего контроля (ИНК)
_bКафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
_h68
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\18709
801 1 _aRU
_b63413507
_c20101016
801 2 _aRU
_b63413507
_c20210514
_gRCR
856 4 _uhttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/23367
856 4 _uhttp://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2014/C18/038.pdf
942 _cBK