| 000 | 03872naa2a2200445 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 629246 | ||
| 005 | 20231030035730.0 | ||
| 035 | _a(RuTPU)RU\TPU\conf\29723 | ||
| 035 | _aRU\TPU\conf\29722 | ||
| 090 | _a629246 | ||
| 100 | _a20190301d2018 k y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 |
_arus _deng |
|
| 102 | _aRU | ||
| 105 | _ay z 101zy | ||
| 135 | _adrcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | _ai | |
| 182 | 0 | _ab | |
| 200 | 1 |
_aИзмерение диаметра тонких волокон дифракционным методом _dMeasurement of thin fiber diameter by the diffraction method _fЧжан Жуйчжи, Е. М. Фёдоров |
|
| 203 |
_aТекст _cэлектронный |
||
| 230 | _a1 компьютерный файл (pdf; 576 Кб) | ||
| 300 | _aЗаглавие с экрана | ||
| 320 | _a[Библиогр.: с. 157-158 (5 назв.)] | ||
| 330 | _aВ статье описан метод контроля диаметра тонких протяжённых объектов на основе эффекта дифракции. Описан способ, позволяющий минимизировать влияние на результат измерения мешающих факторов, таких как чрезмерная засветка области центрального максимума. Предложен и опроробирован вариант технической реализации лабораторного образца дифракционного измерителя, оценены его метрологические характеристики. | ||
| 330 | _aThe article describes a method for controlling the diameter of thin long objects based on the diffraction effect. A method is described that allows minimizing the influence on the measurement result of interfering factors, such as excessive illumination of the region of the central maximum. A variant of the technical realization of a laboratory sample of a diffraction meter was proposed and tested, and its metrological characteristics were evaluated. | ||
| 463 | 0 |
_0(RuTPU)RU\TPU\conf\29687 _tРесурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее (т. 2) _oсборник научных трудов VII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых, 8 -13 октября 2018 г., г. Томск _fНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) _v[С. 153-158] _d2018 |
|
| 510 | 1 |
_aMeasurement of thin fiber diameter by the diffraction method _zeng |
|
| 610 | 1 | _aэлектронный ресурс | |
| 610 | 1 | _aтруды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | _aизмерения | |
| 610 | 1 | _aдиаметры | |
| 610 | 1 | _aтонкие волокна | |
| 610 | 1 | _aдифракционные методы | |
| 610 | 1 | _athin fiber | |
| 610 | 1 | _adiffraction method | |
| 700 | 0 | _aЧжан Жуйчжи | |
| 701 | 1 |
_aФёдоров _bЕ. М. _cспециалист в области электрофизики _cдоцент Томского политехнического университета, кандидат наук _f1980- _gЕвгений Михайлович _2stltpush _3(RuTPU)RU\TPU\pers\25477 |
|
| 712 | 0 | 2 |
_aНациональный исследовательский Томский политехнический университет _bИнженерная школа неразрушающего контроля и безопасности _bОтделение контроля и диагностики _h7978 _2stltpush _3(RuTPU)RU\TPU\col\23584 |
| 801 | 2 |
_aRU _b63413507 _c20190301 _gRCR |
|
| 856 | 4 | _uhttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/52969 | |
| 942 | _cBK | ||