000 02246nlm1a2200397 4500
001 636936
005 20231030040151.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\network\1000
090 _a636936
100 _a20140417a2013 k y0engy50 ba
101 0 _aeng
102 _aUS
135 _adrnn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aOn the choice of the optimal algorithm for the processing of infrared thermograms in active thermal testing
_fV. P. Vavilov
203 _aText
_celectronic
300 _aTitle screen
320 _a[References: p. 618 (7 tit.)]
330 _aA comparative study of the effectiveness of algorithms for processing infrared images, namely, Fourier and wavelet analysis, analysis of principal components, polynomial fitting, and other types, has been performed with active thermal testing of metals and nonmetals and using optical, convective, ultrasonic, and eddy-current stimulation
333 _aРежим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
461 _tRussian Journal of Nondestructive Testing
463 _tVol. 49, iss. 11
_v[P. 611-618]
_d2013
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aИК-термография
610 1 _ainfrared spectra
610 1 _aтепловой контроль
610 1 _athermal testing
610 1 _aобработка изображений
610 1 _aimage processing
700 1 _aVavilov
_bV. P.
_cSpecialist in the field of dosimetry and methodology of nondestructive testing (NDT)
_cDoctor of technical sciences (DSc), Professor of Tomsk Polytechnic University (TPU)
_f1949-
_gVladimir Platonovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\32161
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bИнститут неразрушающего контроля (ИНК)
_bЛаборатория №34 (Тепловых методов контроля)
_h6591
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\19616
801 2 _aRU
_b63413507
_c20180316
_gRCR
856 4 _uhttp://link.springer.com/article/10.1134%2FS1061830913110090
942 _cCF