000 02810nla2a2200505 4500
001 652673
005 20231030041149.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\network\18011
035 _aRU\TPU\network\18010
090 _a652673
100 _a20170123a2016 k y0engy50 ba
101 0 _aeng
105 _ay z 100zy
135 _adrgn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aThe Effect of the Electronic Subsystem on the Deformation and Stress Localization in the Surface Layer of Solids
_fYu. A. Khon, P. P. Kaminskii, E. A. Moldovanova
203 _aText
_celectronic
300 _aTitle screen
320 _a[References: 13 tit.]
330 _aThe paper studies the influence of electron transitions between energy levels in a stressed solid on the morphological instability of the surface. The instability development leads to the localization of inelastic deformation and nucleation of stress concentrators in the surface layer of solids.
333 _aРежим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
461 0 _0(RuTPU)RU\TPU\network\4816
_tAIP Conference Proceedings
463 0 _0(RuTPU)RU\TPU\network\17851
_tVol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
_oProceedings of the International conference, 19–23 September 2016, Tomsk, Russia
_fNational Research Tomsk Polytechnic University (TPU); eds. V. E. Panin ; S. G. Psakhie ; V. M. Fomin
_v[020086, 4 p.]
_d2016
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aпластические сдвиги
610 1 _aмикротрещины
610 1 _aквантовые эффекты
610 1 _aэлектронные подсистемы
610 1 _aдеформирование
610 1 _aповерхностные слои
610 1 _aтвердые тела
610 1 _aplastic shear
610 1 _amicro-crack
610 1 _aquantum effects
610 1 _aorder parameters
610 1 _anucleatio
700 1 _aKhon
_bYu. A.
_gYury
701 1 _aKaminskii
_bP. P.
_gPetr
701 1 _aMoldovanova
_bE. A.
_cmathematician
_cSenior Lecturer of Tomsk Polytechnic University
_f1968-
_gEvgeniya Aleksandrovna
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\33417
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bФизико-технический институт (ФТИ)
_bКафедра высшей математики и математической физики (ВММФ)
_h139
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\18727
801 2 _aRU
_b63413507
_c20170123
_gRCR
856 4 _uhttp://dx.doi.org/10.1063/1.4966379
942 _cCF