000 02055nlm0a2200385 4500
001 656155
005 20231030041416.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\network\22576
090 _a656155
100 _a20171027a2017 k y0engy50 ba
101 0 _aeng
102 _aRU
105 _aa z 101zy
135 _adrnn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aMaterials and products surface discontinuity detection method
_fA. N. Kalinichenko [et al.]
203 _aText
_celectronic
300 _aTitle screen
463 _tAtomic and Molecular Pulsed Lasers - AMPL 2017
_oabstracts of XIII International Conference, September 10-15, 2017, Tomsk, Russia
_v[1 p.]
_d2017
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aразрывы
610 1 _aповерхности
610 1 _aметоды
610 1 _aметоды обнаружения
701 1 _aKalinichenko
_bA. N.
_cspecialist in the field of descriptive geometry
_cAssociate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences
_f1981-
_gAleksey Nikolaevich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\31018
701 1 _aSosnin
_bE. A.
_gEduard Anatoljevich
701 1 _aAndreev
_bS. M.
_gSergey Mikhaylovich
701 1 _aKalinichenko
_bN. P.
_cspecialist in the field of non-destructive testing
_cAssociate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences
_f1945-
_gNikolay Petrovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\35226
701 1 _aIstomin
_bK. A.
_gKonstantin Andreevich
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
_bИнститут неразрушающего контроля (ИНК)
_bКафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)
_h68
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\18709
801 2 _aRU
_b63413507
_c20171027
_gRCR
856 4 _uhttps://symp.iao.ru/files/symp/ampl/13/en/abstr_9245.pdf
942 _cCF