000 02688nlm1a2200385 4500
001 662270
005 20231030041815.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\network\33407
090 _a662270
100 _a20200626a2020 k y0engy50 ba
101 1 _aeng
_deng
102 _aUS
135 _adrcn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aDetermination of the Size of the Focal Spot of a Microfocus Source of Hard Bremsstrahlung
_fM. M. Rychkov, V. V. Kaplin, V. A. Smolyanskiy
203 _aText
_celectronic
300 _aTitle screen
320 _a[References: 7 tit.]
330 _aA new approach to determining the size of the focal spot of a microfocal source of hard radiation is presented. The approach is based on the analysis of an X-ray image of 13-µm-thick tantalum foil oriented along the cone axis of the hard radiation of a microfocus source. The experimental results obtained using a new microfocus source of bremsstrahlung created on the basis of an 18-MeV betatron with a narrow (13 µm) tantalum target inside are presented.
333 _aРежим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
461 _tInstruments and Experimental Techniques
463 _tVol. 63, iss. 1
_v[P. 92-96]
_d2020
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _aизлучение
610 1 _aмикрофокусные источники
610 1 _aбетатроны
700 1 _aRychkov
_bM. M.
_cphysicist
_cHead of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences
_f1977-
_gMaksim Mikhailovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\32262
701 1 _aKaplin
_bV. V.
_cphysicist
_csenior research fellow at Tomsk Polytechnic University
_f1947-
_gValery Viktorovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\31532
701 1 _aSmolyanskiy
_bV. A.
_cSpecialist in the field of instrument engineering
_cEngineer of Tomsk Polytechnic University
_f1991-
_gVladimir Aleksandrovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\38302
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет
_bИнженерная школа неразрушающего контроля и безопасности
_bЦентр промышленной томографии
_bНаучно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов"
_h7983
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\23717
801 2 _aRU
_b63413507
_c20200626
_gRCR
856 4 _uhttps://doi.org/10.1134/S0020441219060198
942 _cCF