000 02845nlm1a2200457 4500
001 662598
005 20231030041826.0
035 _a(RuTPU)RU\TPU\network\33753
090 _a662598
100 _a20200908a2020 k y0engy50 ba
101 0 _aeng
135 _adrcn ---uucaa
181 0 _ai
182 0 _ab
200 1 _aTime-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams
_fV. A. Ryzhkov, B. A. Nechaev, V. N. Padalko
203 _aText
_celectronic
300 _aTitle screen
320 _a[References: 4 tit.]
330 _aAn ablation of a thin layer of surface contamination of the target that self-recovers after each pulse of a powerful ion beam has been used to control ion fluences. Using a time-of-flight optical spectrometer, the average speeds of the lightest components of the ablative plasma, which are hydrogen and carbon, have been measured. and the ion fluence has been determined by their difference.
333 _aРежим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
461 _tTechnical Physics Letters
463 _tVol. 46, iss. 4
_v[P. 354-356]
_d2020
610 1 _aэлектронный ресурс
610 1 _aтруды учёных ТПУ
610 1 _asurface contamination
610 1 _aenergy input
610 1 _aablative plasma
610 1 _ahydrogen
610 1 _acarbon
610 1 _aповерхностное загрязнение
610 1 _aабляционная плазма
610 1 _aводород
610 1 _aуглерод
700 1 _aRyzhkov
_bV. A.
_cspecialist in nuclear physics
_cSenior Researcher, Tomsk Polytechnic University, Candidate of Physical and Mathematical Sciences
_f1958-
_gVladislav Andreevich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\44020
701 1 _aNechaev
_bB. A.
_cphysicist
_cleading engineer of Tomsk Polytechnic University
_f1945-
_gBoris Aleksandrovich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\34601
701 1 _aPadalko
_bV. N.
_cphysicist
_cLeading engineer of Tomsk Polytechnic University
_f1949-
_gVladimir Nikolaevich
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\pers\32978
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет
_bИсследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
_c(2017- )
_h8118
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\23551
712 0 2 _aНациональный исследовательский Томский политехнический университет
_bФизико-технический институт
_bЛаборатория № 33 ядерного реактора
_h6474
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\19896
801 2 _aRU
_b63413507
_c20200908
_gRCR
856 4 _uhttps://doi.org/10.1134/S1063785020040136
942 _cCF