000 02934nam0a2200433 4500
001 78078
005 20231029171502.0
010 _a5900357503
035 _a(RuTPU)RU\TPU\book\83687
090 _a78078
100 _a20050609d2000 m y0rusy50 ca
101 0 _arus
102 _aRU
105 _aa j 001zy
200 1 _aРентгенография минералов
_eучебник
_fД. Ю. Пущаровский
_gМосковский государственный университет им. М. В. Ломоносова
210 _aМосква
_cГеоинформмарк
_d2000
215 _a296 с.
_cил.
320 _aБиблиогр.: с. 288
330 _aДается описание весьма разнообразных физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии минералов, представлены основные принципы теории рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретические основы рентгено-структурного анализа кристаллов. Рассмотрены новые приложения рентгено-структурного анализа для решения важнейших проблем современной геологии и минералогии.
606 1 _aМинералы
_xРентгенографические исследования
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\subj\43950
610 1 _aминералогия
610 1 _aрентгенография
610 1 _aкристаллы
610 1 _aX-лучи
610 1 _aрентгенографический анализ
610 1 _aрентгеновские лучи
610 1 _aрассеяние
610 1 _aрентгеноструктурный анализ
610 1 _aучебники
675 _a549.08:548(075.8)
_v3
700 1 _aПущаровский
_bД. Ю.
_gДмитрий Юрьевич
712 0 2 _aМосковский государственный университет им. М. В. Ломоносова
_2stltpush
_3(RuTPU)RU\TPU\col\7
801 1 _aRU
_b63413507
_c20050609
_gPSBO
801 2 _aRU
_b63413507
_c20200828
_gPSBO
900 _aМинералогия
900 _aМинералогия редких и радиоактивных элементов
900 _aМинералогия и кристаллография
942 _cBK
952 _a511000
_b011100