Application of secondary ion mass spectrometer for measuring the diffusion profiles in alkali-halide crystals
20150827a2015 k y0engy50 ba
- Title screen
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
масс-спектрометры
диффузия
щелочно-галоидные кристаллы
- Title screen
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
масс-спектрометры
диффузия
щелочно-галоидные кристаллы