Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution under Low-Temperature Annealing

20151207a2015 k y0engy50 ba

- Title screen


электронный ресурс
труды учёных ТПУ
функции распределения
интерфейсы
энергия
структуры
отжиг
сканирующая туннельная микроскопия
кристаллиты