Distribution Functions for Internal Interface Energy as a Characteristic of Submicrocrystalline Copper Structure Evolution under Low-Temperature Annealing
20151207a2015 k y0engy50 ba
- Title screen
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
функции распределения
интерфейсы
энергия
структуры
отжиг
сканирующая туннельная микроскопия
кристаллиты
- Title screen
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
функции распределения
интерфейсы
энергия
структуры
отжиг
сканирующая туннельная микроскопия
кристаллиты