Influence of temperature gradient on diffracted X-ray spectrum in quartz crystal (Запись № 650306)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 03868nla2a2200493 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030040940.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\15518 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | RU\TPU\network\15514 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20160930a2016 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
105 ## - Поле кодированных данных: текстовые ресурсы, монографические | |
Кодированные данные о монографическом текстовом документе | y z 100zy |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Influence of temperature gradient on diffracted X-ray spectrum in quartz crystal |
Первые сведения об ответственности | A. R. Mkrtchan (Mkrtchyan) [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: 9 tit.] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | In this work characteristics of hard X-ray (with energy higher than 30 keV) were investigated. In the experiment we measured spectra of X-ray reflected by a quartz monocrystal in Laue geometry under influence of the temperature gradient. The measurements were made by the spectrometer BDER-KI-11K with 300 eV resolution on the 17.74 keV spectral line of Am241 and the spectrometer XR-100CR with 270 eV resolution on the same spectral line. An existence of temperature gradient leads to increasing of the diffracted beam intensity. The intensity was measured dependently on the temperature of one of the edge of the crystal. |
461 #0 - Уровень набора | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\2008 |
Заглавие | IOP Conference Series: Materials Science and Engineering |
463 #0 - Уровень физической единицы | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\15011 |
Заглавие | Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine |
Сведения, относящиеся к заглавию | VIII International Scientific Conference, 1–3 June 2016, Tomsk, Russia |
-- | [proceedings] |
Обозначение тома | [012028, 5 p.] |
Дата публикации | 2016 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | температурные градиенты |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | рентгеновские спектры |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | кристаллы |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | кварц |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | рентгеновские излучения |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Mkrtchan (Mkrtchyan) |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. R. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences |
Даты | 1937- |
Расширение инициалов личного имени | Alpik Rafaelovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\34236 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Potylitsyn |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. P. |
Дополнения к именам, кроме дат | Russian physicist |
-- | Professor of the TPU |
Даты | 1945- |
Расширение инициалов личного имени | Alexander Petrovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\26306 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Vukolov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. V. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Research associate of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences |
Даты | 1978- |
Расширение инициалов личного имени | Artem Vladimirovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31209 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Novokshonov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. I. |
Дополнения к именам, кроме дат | specialist in the field of non-destructive testing |
-- | engineer of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1990- |
Расширение инициалов личного имени | Artem Igorevich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\35523 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Gogolev |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. S. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | associate professor of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1983- |
Расширение инициалов личного имени | Aleksey Sergeevich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31537 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Amiragyan |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | R. V. |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Movsisyan |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | A. E. |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |
Структурное подразделение | Физико-технический институт (ФТИ) |
-- | Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) |
-- | 46 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\18729 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |
Структурное подразделение | Физико-технический институт (ФТИ) |
-- | Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ) |
-- | Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО) |
-- | 7002 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\19530 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20170120 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/135/1/012028 |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34817 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 650306 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.