Influence of temperature gradient on diffracted X-ray spectrum in quartz crystal / A. R. Mkrtchan (Mkrtchyan) [et al.]

Уровень набора: (RuTPU)RU\TPU\network\2008, IOP Conference Series: Materials Science and EngineeringАльтернативный автор-лицо: Mkrtchan (Mkrtchyan), A. R., physicist, Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences, 1937-, Alpik Rafaelovich;Potylitsyn, A. P., Russian physicist, Professor of the TPU, 1945-, Alexander Petrovich;Vukolov, A. V., physicist, Research associate of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical sciences, 1978-, Artem Vladimirovich;Novokshonov, A. I., specialist in the field of non-destructive testing, engineer of Tomsk Polytechnic University, 1990-, Artem Igorevich;Gogolev, A. S., physicist, associate professor of Tomsk Polytechnic University, 1983-, Aleksey Sergeevich;Amiragyan, R. V.;Movsisyan, A. E.Коллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ);Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра прикладной физики (№ 12) (ПФ), Международная научно-образовательная лаборатория "Рентгеновская оптика" (МНОЛ РО)Язык: английский.Страна: .Резюме или реферат: In this work characteristics of hard X-ray (with energy higher than 30 keV) were investigated. In the experiment we measured spectra of X-ray reflected by a quartz monocrystal in Laue geometry under influence of the temperature gradient. The measurements were made by the spectrometer BDER-KI-11K with 300 eV resolution on the 17.74 keV spectral line of Am241 and the spectrometer XR-100CR with 270 eV resolution on the same spectral line. An existence of temperature gradient leads to increasing of the diffracted beam intensity. The intensity was measured dependently on the temperature of one of the edge of the crystal..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 9 tit.].Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | температурные градиенты | рентгеновские спектры | кристаллы | кварц | рентгеновские излучения Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн | Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 9 tit.]

In this work characteristics of hard X-ray (with energy higher than 30 keV) were investigated. In the experiment we measured spectra of X-ray reflected by a quartz monocrystal in Laue geometry under influence of the temperature gradient. The measurements were made by the spectrometer BDER-KI-11K with 300 eV resolution on the 17.74 keV spectral line of Am241 and the spectrometer XR-100CR with 270 eV resolution on the same spectral line. An existence of temperature gradient leads to increasing of the diffracted beam intensity. The intensity was measured dependently on the temperature of one of the edge of the crystal.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.