Microfocus Bremsstrahlung Source Based on a Narrow Internal Target of a Betatron (Запись № 657965)
[ простой вид ]
000 -Маркер | |
---|---|
Поле контроля фиксированной длины | 04421nlm1a2200469 4500 |
005 - Идентификатор версии | |
Поле контроля фиксированной длины | 20231030041532.0 |
035 ## - Другие системные номера | |
Идентификатор записи | (RuTPU)RU\TPU\network\24905 |
100 ## - Данные общей обработки | |
Данные общей обработки | 20180418a2018 k y0engy50 ba |
101 0# - Язык ресурса | |
Язык текста, звукозаписи и т.д. | английский |
102 ## - Страна публикации или производства | |
Страна публикации | |
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы | |
Кодированные данные для электронного ресурса | drcn ---uucaa |
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания | |
Код вида содержания | i |
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа | |
Код средства доступа | electronic |
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности | |
Основное заглавие | Microfocus Bremsstrahlung Source Based on a Narrow Internal Target of a Betatron |
Первые сведения об ответственности | M. M. Rychkov [et al.] |
203 ## - Вид содержания и средство доступа | |
Вид содержания | |
Средство доступа | |
300 ## - Общие примечания | |
Текст примечания | Title screen |
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя | |
Текст примечания | [References: 16 tit.] |
330 ## - Резюме или реферат | |
Текст примечания | The paper addresses the research into the properties of bremsstrahlung generated by interaction of the internal electron beam of the 18 MeV betatron with narrow targets, 50 and 8μm8μm thick Si crystals and 13μm13μm thick Ta foil with a length of 4 mm along the electron beam, mounted in the goniometer inside the betatron chamber. The radiation beams generated in the targets were used to obtain the images of a microstructure of thin wire pairs and an object that consisted of four steel bars with 10μm10μm gaps between them. The images indicate high absorption contrast of their components due to a small horizontal size of the radiation source the width of which in the cases of Si crystals and Ta foil was 30-, 187- and 115-fold smaller than the diameter of the electron beam, respectively. The edge phase-contrast was also observed due to high spatial coherency of the radiation with the linear microfocus generated in the source based on the B-18 betatron with a narrow target inside. |
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования | |
Текст примечания | |
461 ## - Уровень набора | |
Заглавие | Journal of Nondestructive Evaluation |
463 ## - Уровень физической единицы | |
Заглавие | Vol. 37, iss. 1 |
Обозначение тома | [13, 8 p.] |
Дата публикации | 2018 |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | электронный ресурс |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | труды учёных ТПУ |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | бетатроны |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | лучи |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | тормозное излучение |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | гамма-лучи |
610 1# - Неконтролируемые предметные термины | |
Предметный термин | угловые распределения |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Rychkov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | M. M. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Head of the laboratory of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences |
Даты | 1977- |
Расширение инициалов личного имени | Maksim Mikhailovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\32262 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Kaplin |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | V. V. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | senior research fellow at Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1947- |
Расширение инициалов личного имени | Valery Viktorovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\31532 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Malikov |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | E. L. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | Researcher of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1978- |
Расширение инициалов личного имени | Evgeny Lvovich (L'vovich) |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\32863 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Smolyanskiy |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | V. A. |
Дополнения к именам, кроме дат | Specialist in the field of instrument engineering |
-- | Engineer of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1991- |
Расширение инициалов личного имени | Vladimir Aleksandrovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\38302 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Gentselman |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | V. |
Дополнения к именам, кроме дат | physicist |
-- | engineer of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1991- |
Расширение инициалов личного имени | Valentin |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\36460 |
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Vaskovsky |
Часть имени, кроме начального элемента ввода | I. K. |
Дополнения к именам, кроме дат | specialist in the field of accelerating equipment |
-- | Leading engineer of Tomsk Polytechnic University |
Даты | 1941- |
Расширение инициалов личного имени | Ivan Kirillovich |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\pers\37633 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности |
-- | Центр промышленной томографии |
-- | Научно-производственная лаборатория "Бетатронная томография крупногабаритных объектов" |
-- | 7983 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23717 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности |
-- | Отделение электронной инженерии |
-- | 7977 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23507 |
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность | |
Начальный элемент ввода | Национальный исследовательский Томский политехнический университет |
Структурное подразделение | Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов |
Идентифицирующий признак | (2017- ) |
-- | 8118 |
-- | stltpush |
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи | (RuTPU)RU\TPU\col\23551 |
801 #2 - Источник записи | |
Страна | RU |
Организация | 63413507 |
Дата составления | 20180418 |
Правила каталогизации | RCR |
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним | |
Универсальный идентификатор ресурса | https://doi.org/10.1007/s10921-018-0464-6 |
090 ## - System Control Numbers (Koha) | |
Koha biblioitem number (autogenerated) | 657965 |
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха) | |
Тип документа | Computer Files |
Нет доступных единиц.