Formation and structural features of nitrogen-doped titanium dioxide thin films grown by reactive magnetron sputtering (Запись № 663060)

Подробно MARC
000 -Маркер
Поле контроля фиксированной длины 03476nlm1a2200493 4500
005 - Идентификатор версии
Поле контроля фиксированной длины 20231030041841.0
035 ## - Другие системные номера
Идентификатор записи (RuTPU)RU\TPU\network\34229
100 ## - Данные общей обработки
Данные общей обработки 20210122a2020 k y0engy50 ba
101 0# - Язык ресурса
Язык текста, звукозаписи и т.д. английский
102 ## - Страна публикации или производства
Страна публикации
135 ## - Поле кодированных данных: электронные ресурсы
Кодированные данные для электронного ресурса drcn ---uucaa
181 #0 - Поле кодированных данных: вид содержания
Код вида содержания i
182 #0 - Поле кодированных данных: средство доступа
Код средства доступа electronic
200 1# - Заглавие и сведения об ответственности
Основное заглавие Formation and structural features of nitrogen-doped titanium dioxide thin films grown by reactive magnetron sputtering
Первые сведения об ответственности A. A. Pustovalova, E. L. Boytsova, D. Aubakirova [et al.]
203 ## - Вид содержания и средство доступа
Вид содержания
Средство доступа
300 ## - Общие примечания
Текст примечания Title screen
320 ## - Примечания о наличии в ресурсе библиографии/указателя
Текст примечания [References: 61 tit.]
330 ## - Резюме или реферат
Текст примечания The structural features of N-doped titanium dioxide (N-TiO2) thin films deposited via reactive magnetron sputtering system with different nitrogen to oxygen ratio are analyzed. Bias voltage was used as a significant parameter involved in the deposition process. Grown films have two-phase structure consisting of anatase and rutile mixture. The analysis of structure and morphology of the films by SEM, TEM, XRD, FTIR and XPS techniques showed the changing of anatase to rutile ratio and grain size reduction in N-TiO2 thin films with increase of nitrogen content in the working gas at simultaneous bias applying. Nitrogen atoms in oxide form are located at the crystallites boundaries and this 2D quasi-layer of NOx species limits the epitaxial growth of TiO2 crystallites during film formation.
333 ## - Примечания об особенностях распространения и использования
Текст примечания
461 ## - Уровень набора
Заглавие Applied Surface Science
463 ## - Уровень физической единицы
Заглавие Vol. 534
Обозначение тома [147572, 10 p.]
Дата публикации 2020
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин электронный ресурс
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин труды учёных ТПУ
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин titanium dioxide
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин N-doped TiO2
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин nitrogen oxides
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин bias voltage
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин magnetron sputtering
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин оксид титана
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин оксид азота
610 1# - Неконтролируемые предметные термины
Предметный термин магнетронное распыление
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Pustovalova
Часть имени, кроме начального элемента ввода A. A.
Расширение инициалов личного имени Alla Aleksandrovna
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Boytsova
Часть имени, кроме начального элемента ввода E. L.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- assistant Professor of Tomsk Polytechnic University
Даты 1975-
Расширение инициалов личного имени Elena Lvovna
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\36962
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Aubakirova
Часть имени, кроме начального элемента ввода D.
Расширение инициалов личного имени Danagul
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Bruns
Часть имени, кроме начального элемента ввода M. P.
Расширение инициалов личного имени Michael
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Tverdokhlebov
Часть имени, кроме начального элемента ввода S. I.
Дополнения к именам, кроме дат physicist
-- Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of physical and mathematical science
Даты 1961-
Расширение инициалов личного имени Sergei Ivanovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\30855
701 #1 - Имя лица – альтернативная ответственность
Начальный элемент ввода Pichugin
Часть имени, кроме начального элемента ввода V. F.
Дополнения к именам, кроме дат Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences
-- Physicist
Даты 1944-
Расширение инициалов личного имени Vladimir Fyodorovich
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\pers\30933
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов
Идентифицирующий признак (2017- )
-- 8118
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\23551
712 02 - Наименование организации – вторичная ответственность
Начальный элемент ввода Национальный исследовательский Томский политехнический университет
Структурное подразделение Инженерная школа ядерных технологий
-- Отделение ядерно-топливного цикла
-- 7864
-- stltpush
Идентификатор авторитетной/ нормативной записи (RuTPU)RU\TPU\col\23554
801 #2 - Источник записи
Страна RU
Организация 63413507
Дата составления 20210122
Правила каталогизации RCR
856 4# - Местонахождение электронных ресурсов и доступ к ним
Универсальный идентификатор ресурса https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.147572
090 ## - System Control Numbers (Koha)
Koha biblioitem number (autogenerated) 663060
942 ## - Добавленные элементы ввода (Коха)
Тип документа Computer Files

Нет доступных единиц.