Channeling of 20-35 MeV electrons in Si substrates of multilayer structures / V. V. Kaplin, S. R. Uglov

Основной Автор-лицо: Kaplin, V. V., physicist, senior research fellow at Tomsk Polytechnic University, 1947-, Valeriy ViktorovichАльтернативный автор-лицо: Uglov, S. R., physicist, senior research fellow at Tomsk Polytechnic University, 1958-, Sergey RomanovichЯзык: английский.Страна: Россия.Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: Библиогр.: 2 (назв.).Тематика: труды учёных ТПУ | электроны | каналирование | кремний | подложки | многослойные структуры
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Библиогр.: 2 (назв.)

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.