Measurement of spectral and polarization characteristics of parametric X-rays in a Si crystal / Yu. N. Adishchev [et al.]

Уровень набора: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Scientific Journal = 1984-Альтернативный автор-лицо: Adishchev, Yu. N., physicist, Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of physical and mathematical sciences, 1946-, Yuri Nikolaevich;Verzilov, V. A.;Potylitsyn, A. P., Russian physicist, Professor of the TPU, 1945-, Alexander Petrovich;Uglov, S. R., physicist, senior research fellow at Tomsk Polytechnic University, 1958-, Sergey Romanovich;Vorobiev, S. A., physicist, Senior researcher of Tomsk Polytechnic University, 1944-1992, Sergey AleksandrovichЯзык: английский.Резюме или реферат: Spectral distributions of parametric X-rays (PX) have been measured for 900 MeV electrons transmitted through a Si crystal. A displacement of the PX spectral line was observed with the crystal rotation and in scanning PX radiation reflection by a detector. A high degree of linear polarization (P = 0.8) of parametric X-rays was obtained..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: p. 136 (15 tit.)].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: p. 136 (15 tit.)]

Spectral distributions of parametric X-rays (PX) have been measured for 900 MeV electrons transmitted through a Si crystal. A displacement of the PX spectral line was observed with the crystal rotation and in scanning PX radiation reflection by a detector. A high degree of linear polarization (P = 0.8) of parametric X-rays was obtained.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.