Properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering method / V. V. An, V. M. Pogrebenkov, A. N. Zakharov

Уровень набора: Inorganic Materials: Applied Research = 2010-Основной Автор-лицо: An, V. V., chemist, Researcher of Tomsk Polytechnic University, candidate of technical sciences, 1972-, Vladimir VilorievichАльтернативный автор-лицо: Pogrebenkov, V. M., Chemical Engineer, Professor of Tomsk Polytechnic University, Doctor of technical sciences, 1954-, Valery Matveevich;Zakharov, A. N., Aleksandr NikolaevichКоллективный автор (вторичный): Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт физики высоких технологий (ИФВТ), Кафедра общей химии и химической технологии (ОХХТ);Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт физики высоких технологий (ИФВТ), Кафедра технологии силикатов и наноматериалов (ТСН)Язык: английский.Страна: .Резюме или реферат: This article describes investigations into the properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering on glass substrates in argon atmosphere. Transmittance spectra of the obtained films are studied by spectrophotometry in the range from 300 to 900 nm; the band gaps are determined. The thickness of the obtained films varies in the range of 0.5-1 μm..Примечания о наличии в документе библиографии/указателя: [References: 9 tit.].Аудитория: .Тематика: электронный ресурс | труды учёных ТПУ | тонкопленочные изделия | наноструктуризация | мишени | вольфрам | сульфид меди Ресурсы он-лайн:Щелкните здесь для доступа в онлайн
Тэги из этой библиотеки: Нет тэгов из этой библиотеки для этого заглавия. Авторизуйтесь, чтобы добавить теги.
Оценка
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи

Title screen

[References: 9 tit.]

This article describes investigations into the properties of thin films of tungsten sulfide and copper sulfide produced by magnetron sputtering on glass substrates in argon atmosphere. Transmittance spectra of the obtained films are studied by spectrophotometry in the range from 300 to 900 nm; the band gaps are determined. The thickness of the obtained films varies in the range of 0.5-1 μm.

Для данного заглавия нет комментариев.

оставить комментарий.