Найдено 2 записей

Результаты
	1.	Comparing the efficiency of defect depth characterization algorithms in the inspection of CFRP by using one-sided pulsed thermal NDT / A. I. Moskovchenko, V. P. Vavilov, A. O. ChulkovУровень набора: Infrared Physics and TechnologyДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Simple and robust methodology of defect thermal characterization based on thermal quadrupoles and polynomial approximation / D. A. Nesteruk, V. P. Vavilov, A. O. Chulkov, D. BurleighУровень набора: NDT & E InternationalДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск