Найдено 4 результатов.

Результаты
	1.	Comparison of PXR Intensity Below and Above the K-edge of Ge / I. Endo [et al.]Доступность: Нет доступных экземпляров : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	2.	Sensitivity of PXR to the Electric Susceptibility Near the K-edge of Ge - Preliminary Results : preprint Hiroshima University HUPD-9320 / I. Endo [et al.] ; Hiroshima UniversityПубликация: : 1993Описание: 12 p.Доступность: Нет доступных экземпляров : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	3.	Measurements of Thickness Dependence of Parametric X-Radiation from Si : preprint Hiroshima University HUPD-9319 / I. Endo [et al.] ; Hiroshima UniversityПубликация: : 1993Описание: 15 p.Доступность: Нет доступных экземпляров : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)
	4.	Parametric x radiation from thick crystals / I. Endo [et al.]Уровень набора: Physical Review E, Scientific JournalДоступность: : Добавить в подборку Добавить в корзину (удалить)

Уточните Ваш поиск