Найдено 2 записей

Сортировать
Снять подсветку Подсветить
Выбрать всё Очистить всё
Выбрать заглавия:
Новая подборка
Результаты
1.
Fundamental of Nanoscale Film Analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. MayerПубликация: : Springer, 2007Описание: 336 p. : il.Доступность: Экземпляры, доступные для выдачи: НТБ ТПУРасстановочный шифр: 539.2 A34 (1).

Заказать Добавить в подборку Добавить в корзину
2.
Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / L. C. Feldman, J. W. MayerПубликация: : North-Holland, 1986Описание: 352 p. : il.Доступность: Экземпляры, доступные для выдачи: НТБ ТПУРасстановочный шифр: 87-10597 (1).

Заказать Добавить в подборку Добавить в корзину